吉林省華博科技工業有限公司
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高頻介質損耗（介電常數）測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）自動測量的*佳解決方案。
介質損耗(介電常數)測試系統方案
高頻介質損耗(介電常數)測試系統由HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置（夾具）、數據采集和tanδ自動測量控件（裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態材料)組成。
高頻介質損耗(介電常數)測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的z佳解決方案。
高頻介質損耗(介電常數)測試系統配置方案及報價如下表:
主機 | HJS-I高頻Q表 |
測試裝置 | AS916 |
HLKI-1型電感器組 | √ |
|
|
1 HJS-A+AS916+HLKI-1電感組特點:
測試頻率范圍 | 10KHz-70MHz, LCD顯示,6位有效數 ,DDS數字合成 |
Q值測量范圍 | 1～1000四位數顯，±0.1Q分辨率 |
可調電容范圍 | 28～490pF 0.1pF分辨率 |
電容測量誤差 | ±0.5%±0.5pF |
Q表殘余電感值 | 約20nH |
S916測試裝置 | 屏幕5位數顯，極片為φ38和φ50二選一,支持液體杯測試, 液體杯測試極片為φ38 |
數據采集和tanδ自動測量控件 | 支持 |
技術參數
（1）Q值測量
a．Q值測量范圍：2～1023。
b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
c．標稱誤差
頻率范圍 10kHz～10MHz；
固有誤差 ≤5％±滿度值的2％；
工作誤差 ≤7％±滿度值的2％；
頻率范圍 10MHz～70MHz；
固有誤差 ≤6％±滿度值的2％；
工作誤差 ≤8％±滿度值的2％。
（2）電感測量范圍：14.5nH~8.14H
（3）電容測量：1~ 460
項 目
直接測量范圍 1～460pF
主電容調節范圍 30～500pF
準 確 度 150pF以下±1pF；
150pF以上±1％
（4）信號源頻率覆蓋范圍
項 目
頻率范圍 10kHz～70MHz
頻率分段（虛擬） 10～99.9999kHz
100～999.999kHz
1～9.99999MHz
10～70MHz
頻率指示誤差 3×10-5±1個字
（5）Q合格指示預置功能
預置范圍：5～1000。
（6）Q表正常工作條件
a. 環境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80％；>
c．電源：220V±22V， 50Hz±2.5Hz。
4、設備配置：
a.測試主機一臺；
b.電感9只；
c.夾具一套
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